Publikationen

Nachfolgend finden Sie Publikationen von Mitarbeitenden des Instituts für Angewandte Mathematik und Physik (IAMP) nach Erscheinungsdatum sortiert:

Barco, Daniel; Stadelmann, Marc; Oswald, Martin; Herzig, Ivo; Lichtensteiger, Lukas; Paysan, Pascal; Peterlik, Igor; Walczak, Michal; Menze, Bjoern; Schilling, Frank-Peter,

2026.

MInDI-3D : iterative deep learning in 3D for sparse-view cone beam computed tomography.

IEEE Access.

14, S. 6438-6449.

Verfügbar unter: https://doi.org/10.21256/zhaw-35362
Di Maria, Monica; Planeta, Diego; Venturini, Francesca; Torregrossa, Federica; Crupi, Pasquale,

2026.

How can we sustainably assess the shelf life of EVOO? A systematic review on analytical strategies and food waste reduction.

Frontiers in Nutrition.

12(1722145).

Verfügbar unter: https://doi.org/10.21256/zhaw-35009
Rainford, Penn F.; Occhipinti, Annalisa; Wang, Bo; Stepney, Susan; Angione, Claudio; Verma, Suraj; Marucci, Lucia; Sharma, Kieren; Harris, Sarah A.; Füchslin, Rudolf M.; Klipp, Edda; Grierson, Claire Ss; Weyland, Mathias S.; Mogre, Aalap; Fellermann, Harold; Doan, Le Minh Thao; Gherman, Ioana M.; Pyne, Alice L. B.; Rudge, Timothy J.; Berrelleza, Victor M. V.; Gorochowski, Thomas E.,

2026.

Knowledge preservation in the era of big science and AI : strategies for sustainable scientific research.

Nature Communications.

17(4069).

Verfügbar unter: https://doi.org/10.21256/zhaw-36560
Reif, Monika; Fernández Moguel, Leticia; Shin, Jiwon,

2026.

Von Black Box zu Safety Evidence : Framework zur Sicherheitsargumentation für KI in Bahnsystemen.

In:

TÜV SÜD Tagung safe.tech, München, Deutschland, 29.-30. April 2026.
Karimipourfard, Mehrnoosh; Stocker, Daniel; Sommer, Christian; Sina, Sedigheh; Scheidegger, Stephan,

2025.

Identifying robust radiomic features in CT imaging for predicting object contrast variation.

In:

2025 IEEE Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD).

2025 IEEE Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD), Yokohama, Japan, 1-8 November 2025.

IEEE.