Nanoimaging Labor

Das Nanoimaging Labor ermöglicht es, makroskopische Bauelementeigenschaften mit lokalen Strukturen auf der Nanoebene zu verknüpfen – eine zentrale Herausforderung moderner Materialforschung.

Das Labor kombiniert Raman- und Photolumineszenzspektroskopie mit Rasterkraft-mikroskopie (AFM), um elektrische, topographische und optische Eigenschaften mit nanometrischer Auflösung zu erfassen. Zentrale Komponenten sind:

• LabRAM-System für konfokale PL- und Raman-Mapping-Messungen (mikrometergenau, temperaturabhängig)
• AFM-Integration für kolokalisierte optische und topographische Messungen
• Elektrische AFM-Modi (c-AFM, KPFM) zur Untersuchung von Leitfähigkeit und Oberflächenpotential
• Messungen unter N₂-Atmosphäre zur Kontrolle der Probenumgebung

Diese Infrastruktur erlaubt die multidimensionale Analyse von Funktionsmaterialien, z. B. zur Optimierung von Solarzellen oder Memristoren.