Kammrath & Weiss REM-compatible tensile tester
Mobile Zugprüfmaschine zur Testung von Samples unter verschiedenen Mikroskop Typen, inklusive in einem Rasterelektronenmikroskop.
Technische Daten:
- Max. Kraft.: ±5 kN
- Max. Verschiebung: 50 mm
- Verschiebungsauflösung: 100 nm
- Geschwindigkeit: 0.3…50 μm/s
- Max. Sampledimensionen: 60 x 16 mm
- Prüfmodi: Zug- und Druckversuche
- Regelungsarten: Kraft- und Wegregelung
- Maschinengösse: 220x15x55 mm (LxBxH)
- Gewicht: ~2.4 kg
- Verfügbare Kraftsensoren: 20 N (nach Bedarf ergänzbar)
- Klemmendesign nach Bedarf ergänzbar für verschiedenste Probentypen
- Kombinierbar mit Rasterelektronen-, Licht- und 2-Photonen Mikroskop (Kompatibel mit verschiedensten optischen Messystemen)
- Anzahl verfügbare Anlagen: 1
