Dieses Forschungsprojekt zielt darauf ab, eine enge Beziehung zwischen der Nano- und der Bauelementeskala herzustellen. Das übergeordnete Ziel ist die Entwicklung einer Charakterisierungs-Toolbox durch Skalierung makroskopischer optoelektronischer Charakterisierungen auf die Mikro- und Nanoskala. Spezifische Ziele betreffen die Rolle von Materialinhomogenitäten auf der Nanoskala wie Korngrenzen und Grenzflächen zwischen Schichten. Darüber hinaus soll die Degradation unter Wärme- und Lichteinwirkung untersucht werden.

Um diese Ziele zu erreichen, wird eine Methodik im Nanomassstab entwickelt, die auf einem kombinierten experimentellen und Simulationsansatz beruht. Die Experimente werden mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie (AFM) durchgeführt. Verfügbare Techniken werden weiterentwickelt, um lokale Strom-Spannungs-, Impedanz- und transiente optoelektronische Signale aufzuzeichnen. Diese Daten werden mit einer dreidimensionalen Simulation verglichen, die zu entwickeln ist.

Wir gehen davon aus, dass der Ansatz in diesem Projekt es uns ermöglicht, die Vorgänge in den verschiedenen Schichten zu untersuchen und Daten aufzuzeichnen, die bisher noch nie gemessen wurden, z. B. die Nano-Elektrolumineszenz jenseits der Beugungsgrenze. Fortgeschrittene Bildanalyse und der Vergleich mit massgeschneiderten Simulationen werden uns bei der Quantifizierung von Parametern helfen, die für den Erfolg des Projekts entscheidend sind.