Zustandsbasierte Gate-Steuerung und KI-unterstütztes Condition Monitoring für Hochleistungsschaltmodule
Beschreibung
Hochleistungs-Halbleitermodule bieten jahrzehntelangen Betrieb, benötigen jedoch kontinuierliche Überwachung.
Adaptive Gate-Steuerung und symmetrische Lastverteilung verlängern ihre Lebensdauer.
KI-basiertes Condition Monitoring
- ermöglicht frühzeitige Fehlererkennung und
- senkt die Wartungskosten.
Eckdaten
Projektleitung
Projektteam
Projektpartner
ALSTOM Schweiz AG
Projektstatus
laufend, gestartet 04/2026
Institut/Zentrum
Institute of Embedded Systems (InES); Institut für Mechatronische Systeme (IMS)
Drittmittelgeber
Innosuisse Innovationsprojekt